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ICED MicroView Type
AR Glass(Micro OLED), Micro LED Wafer, Mini LED, LCD subpixels, OLED subpixels 등 발광 소자에 대한 광 특성 검사
Key Feature
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대면적 및 다이(Die) 단위의 광학 검사로 다수의 소자를 한 번에 측정 가능
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픽셀 수준의 분광 복사휘도, 휘도, 색좌표, 균일도 측정
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전계발광(EL) 및 광여기발광(PL) 검사를 통해 비발광 및 약광(Weakly Lit) 칩을 신속하게 분류 가능
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분광 분석을 기반으로 계산된 주요 광학 지표 제공 가능 (Dominant Wavelength, Peak Wavelength, FWHM, Cd/㎡ 등)
Maginfying Lens
*specifications based on magnifying lens + 5mp camera
*specifications can vary depending on lens and camera configuration
Industrial Microscope
*specifications based on industrial microscope + 5mp camera
*specifications can vary depending on lens and camera configuration
[Example] Smart Phone (Galaxy Note20)
[RGB View]
[Luminance Mura View]
[Wavelength View]
[Pixel View]
[Chromaticity View]
[Example] AR Glass (μOLED)
[RGB View]
[Luminance Mura View]
[Wavelength View]
[Pixel View]
[Chromaticity View]
[Application] Micro LED inspection
MicroLED의 다양한 파장에서의 발광 특성을 신속하게 분석하여, 대면적에서의 다수의 소자에 대한 발광 효율, 색 좌표, 광도 균일성 등을 정확하게 평가함
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